Siri 378 - Ciri-ciri Mikroskop FS-70 untuk Pengesanan Semikonduktor
Sistem optik ini pada mulanya dibangunkan untuk model FS60 yang paling laris (kemudian naik ke model FS70).Ia sangat sesuai sebagai mikroskop untuk mengukur dan mengesan peranti semikonduktor.
FS70L menyokong 3 jenis gelombang laser YAG (1064nm, 532nm, 355nm), FS70L4 menyokong 2 jenis panjang gelombang (532nm, 266nm), boleh menggunakan teknologi pemotongan laser dan filem nipis dalam substrat semikonduktor dan kristal cecair. Ini menjadikan penggunaan laser lebih luas. Walau bagaimanapun, penggunaan alat pengukur Sanfeng tidak bertanggungjawab terhadap prestasi dan keselamatan garis laser mikroskop. Kami mengesyorkan anda memeriksanya dengan teliti apabila membeli pemancar laser.
Ciri-ciri standard FS70Z adalah: medan pandangan terang, perbandingan gangguan diferensial (DIC) dan pemerhatian polarisasi. FS70L dan FS70L4 tidak menyokong DIC. Menggunakan penukar terbina dalam menjadikan operasi objektif jarak kerja yang panjang sangat mudah.
Reka bentuk yang sangat mudah dioperasikan: FS70 menggunakan sistem optik yang sama (seperti dalam bidang pandangan yang sama dengan arah sampel) dan menggunakan pegangan getah untuk meningkatkan roda tangan.

Siri 378 - Parameter prestasi mikroskop pengesanan semikonduktor FS-70

Siri 378 - Parameter teknikal untuk mikroskop pengesanan semikonduktor FS-70
Fokus
Kaedah: mempunyai roda tangan kasar dan halus (kiri dan kanan)
Julat: Julat pengukuran 50mm, penyesuaian halus 0.1mm / rev 3.8mm / rev
Imej kacamata tiga mata: sama seperti
Jarak mata: Jenis Siedentopf
Julat pengaturan: 51-76mm
Bilangan pandangan : 24
Sudut: 0 °-20 ° (hanya untuk -TH, model THS)
Sistem pencahayaan: pencahayaan refleks medan pandangan terang (pencahayaan Kohler, dengan aperture)
Sumber cahaya: 12V100W gentian optik, tiada terang teratur), panjang pemandu cahaya 1.5m, penggunaan kuasa 150W
Objek (pilihan): M Plan Apo, M Plan Apo SL, G Plan Apo