v Penggunaan teknologi terkemuka global dan pelbagai paten autonomi domestik
v Ujian fungsi satu sisi, standard, pelbagai segmen dan titik kawat
v Rintangan konduktif boleh dikelompokkan secara berasingan, rintangan konduktif yang boleh diukur secara satu sisi
v Pengukuran titik boleh ditetapkan secara berasingan untuk nilai sensitiviti dan warna satu garis
v Kapasiti maksimum yang boleh diukur500μFKapasiti yang boleh diukur dan kapasiti positif
v Litar pendek, litar terbuka yang buruk menghakimi yang tepat
v Kelajuan ujian sistem secara keseluruhan dua kali ganda daripada produk tradisional
v Menyediakan majuUSBdanRS232Antara muka,dan boleh denganPCOperasi dalam talian
v Bahan khas dan proses pembuatan, penebat kurang dipengaruhi oleh udara lembab
v Sistem menyediakan laporan statistik dan pencetakan
v Sistem menyediakan ciri pengiraan barangan yang baik, boleh mengikut keperluan jumlah pembungkusan produkTetapan peringatan untuk pengiraan barangan ujian
v Reka bentuk perisian dan perkakasan autonomi, peribadi mengikut keperluan pelanggan untuk menyesuaikan ciri-ciri lain
v Bahasa Inggeris satu klik bertukar
Spesifikasi teknikal SPECIFICATION
|
Pengujian Jumlah masa Bilik Test time |
|
|
Putus/jalan pendekOpen/short |
Cepat(4ms/Kemudian/128Titik),Perlahan(8ms/Kemudian/128Titik) |
|
Pengantar rintanganCond |
Cepat55Kemudian/saat,kelajuan sederhana45Kemudian/saat,Perlahan30Kemudian/saat0.2s/64net(Standard)Rujukan |
|
rintangan penebatInsulation resistance |
Satu pasangan yang lain.3.6s/128net(0.01s)Separuh laju0.4s/128net(0.01s) 0.01saat-saat60Setelan pilihan saat |
|
Tekanan tinggi komunikasiAC High Voltage |
Satu pasangan yang lain.9.5s/128net(0.01s)Separuh laju0.9s/128net(0.01s) 0.01saat-saat60Setelan pilihan saat |
|
Sekejap/Jalan pendek berkelajuan tinggi INT Time |
0saat-saat99saat Tetapkan0Saat menunjukkan masa yang tidak terhad
|
|
Pengujian Cuba rujukan BilanganTest parameters |
||
|
Item MataProject |
SimbolSymbol |
Julat ujianTest range |
|
Putus/jalan pendek |
O/S |
1KΩ~100KΩ |
|
Ujian rintangan |
COND |
1mΩ~50Ω |
|
Pengukuran rintangan |
R |
0.1Ω~5MΩ |
|
Pengukuran kapasiti |
C |
10pF~1000μF |
|
Pengukuran dioda |
D |
0.0V~7.0V |
|
Impedansi penebat |
I.S |
0.1MΩ~1000MΩ |
|
Aliran kebocoran DC |
IL |
1μA~1000μA |
|
Kebocoran voltan tinggi |
IL |
0.01mA~5mA |
|
Impedansi segera |
INT.COND |
1mΩ~50Ω |
|
Cepat singkat |
INT.OPEN |
0.4ms |
|
Jalan singkat segera |
INT.O/S |
2ms/64pinSensitiviti |
|
Peraturan Grid Katakan jelas Specifications |
|
|
Mod imbasan ujian Scan Mode |
Automatik/manual/berterusan/Imbasan luaran boleh ditukar |
|
Paparkan/Peranti isyarat bunyiWaming device |
Pass/Fail LEDLampu Merah Hijau/Paparan skrin/Polis suara320*240LCDPaparan kristal cecair, biru/Putih boleh ditukar |
|
Peranti Storan |
Terbinaan512KB SRAM,Boleh diperluaskan1024KB |
|
SaizSize |
(W×D×H)425×190×350mm |
|
berat badanWeight |
kira-kira14kg(Tiada aksesori)
|
|
Pilih Beli Jari SelatanSelection Guide |
||
|
Model Produk
Product Type |
Bilangan titik pengukuran
Test Points |
Mengukur voltan
Test Voltage |
|
LK-5800D |
64pin |
DC:5~1000V |
|
LK-5800F |
64 pin |
DC:5~1000V,AC:100~800V |
|
LK-5800N |
128pin |
DC:5~1000V |
|
LK-5800N2 |
256pin |
DC:5~1000V |
|
LK-5800NA |
128 pin |
DC:5~1000V,AC:100~800V |
|
LK-5800NA2 |
256pin |
DC:5~1000V,AC:100~800V |
|
LK-5800FA |
128 pin |
DC:5~1500V,AC:100~1000V |
|
LK-5800FA2 |
256pin |
DC:5~1500V,AC:100~1000V |
